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transition edge sensors for high-resolution X-ray imaging spectrometers H. Akamatsu,a) D. Vaccaro,b) L. Gottardi,b) J. van der Kuur,c) C.P. de Vries,b) M. Kiviranta,d) K. Ravensberg,b) M. D’Andrea,e) E. Taralli,b) M.… Click to show full abstract
transition edge sensors for high-resolution X-ray imaging spectrometers H. Akamatsu,a) D. Vaccaro,b) L. Gottardi,b) J. van der Kuur,c) C.P. de Vries,b) M. Kiviranta,d) K. Ravensberg,b) M. D’Andrea,e) E. Taralli,b) M. de Wit,b) M.P. Bruijn,b) P. van der Hulst,b) R. H. den Hartog,b) B-J. van Leeuwen,b) A.J. van der Linden,b) A.J McCalden,b) K. Nagayoshi,b) A.C.T. Nieuwenhuizen,b) M.L. Ridder,b) S. Visser,b) P. van Winden,b) J.R. Gao,f) R.W.M. Hoogeveen,b) B.D. Jackson,c) and J-W.A. den Herderb)
Keywords:
high resolution;
sensors high;
van;
transition edge;
resolution ray;
edge sensors
Journal Title: Applied Physics Letters
Year Published: 2021
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